导 读
Integration
集成的尺度
基本粒子
人类已知的世界由61种基本粒子(Elementary Particles)组成。
原子
我们将尺度放大到原子。
人类目前已知的118种元素中,来自自然界的元素有92种,其余的元素则是由人工合成的。代表元素的最小单位我们称之为原子,不同的原子构成了不同的物质。
原子的结构,原子由原子核和绕核运动的电子组成。原子核只占原子体积的几千亿分之一,因此,原子的体积是由核外电子决定的。
从原子到功能细胞
什么是功能细胞(Function Cell)?我们定义其为功能的最小单位,在集成电路中,晶体管就可以被定义为功能细胞。当然,电阻、电容、电感、二极管等也是功能细胞。
下图是目前主流的FinFET晶体管,通过在栅极(Gate)施加合理的电压,电子就能从源极(Source)流向漏极(Drain),从而产生电流并导通。
通过晶体管的导通和关断,可以表示不同的状态,多个晶体管组合在一起,就能形成不同的逻辑电路,从而完成不同的功能。
只要能执行相同的功能,功能细胞的体积自然是越小越好。那功能细胞能小到什么程度呢?
针对现有的硅基晶体管而言,大致受两个因素的制约,一个是晶体管内最小的结构宽度,另一个是晶体管自身所占的面积(体积)。
从上面分析我们知道,三个硅原子并排排列的宽度就超过了1nm,晶体管的最小结构宽度可能达到甚至小于1nm吗?现在不好下论断,这么小的宽度除了工艺制作很难,按照现有理论工作的晶体管也难以正常工作。
从功能细胞到常系统
功能细胞可以很小,现在的技术可以支持在指甲盖大小的芯片上集成超过100亿以上的晶体管。多个功能细胞可以组成功能块(Function Block),多个功能块又组成了功能单元(Function Unit),多个功能单元组成了微系统(MicroSystem)。
从常系统到大系统
另外,还有一类系统,虽然也是为人服务的,但并非为个人服务,而是为群体服务,因此其尺度可以很大,这类系统我们称之为大系统(Giant System)。例如载人航天系统,无线通讯网络系统,GPS全球卫星定位系统等等。
例如GPS系统,分为三大部分:空间部分,一共由24颗卫星组成;地面部分,由主控制站,监测站,地面天线组成;用户设备部分,即各式各样的GPS 信号接收机。
GPS系统可对地面车辆、船只、飞机、卫星和飞船等各种移动用户进行实时的高精度定位测速和精确授时。
大系统和常系统一样,为了满足更多的功能需求,其功能密度也会不断增加,并且这种趋势会随着人类文明的发展一直延续下去,同样也符合功能密度定律的描述。
集成的尺度总结
这里,我们用两张图对集成的尺度做个总结。
其中,功能细胞是最小的功能单位,功能细胞→功能块→功能单元,为三级不同的功能单位,并由此组成了微系统→常系统→大系统,如下图所示。
然后,我们对功能细胞进行解析,将功能细胞按照层次分为4级:基本粒子组成了原子,原子形成晶胞,晶胞组成了功能细胞。
Integration
集成的维度
人类可以感知的世界,空间维度只有三个,加上时间,常被称为四维时空。
弦理论里描述的11维时空,无法证实其是否真实存在。即使存在,也如同那些被禁锢在微观世界的基本粒子,在人类的宏观世界根本无法感知,因此,对人类的活动几乎没有任何影响。
在我们通常的认识中,零维是点,一维是线,二维是平面,三维是立体。
集成,是将不同的单元汇聚到一起,并能实现其特定功能的过程,因此,零维的点,一维的线都不适应于集成,现实中主要的集成方式就是两维的平面集成和三维的立体集成。
实际应用中,仅仅用两维和三维来对集成进行分类确实有些勉为其难,例如有的人就用“假3D”,“真3D”来区分不同类型的芯片堆叠方式。
在本文中,我们将集成分为:2D、2D+、2.5D、3D、4D,共五种集成维度,目的是为了便于集成的分类和区分,同时也兼容目前的主流说法。
2D集成
2D 集成是指在基板的表面水平安装所有芯片和无源器件的集成方式。
以基板 (Substrate) 上表面的左下角为原点,基板上表面所处的平面为XY平面,基板法线为Z轴,创建坐标系。
物理结构:所有芯片和无源器件均安装在基板平面,芯片和无源器件和 XY 平面直接接触,基板上的布线和过孔均位于 XY 平面下方;电气互连:均需要通过基板(除了极少数通过键合线直接连接的键合点)。
我们最常见的2D集成技术应用于MCM、部分SiP以及PCB。
MCM(Multi Chip Module)多芯片模块是将多个裸芯片高密度安装在同一基板上构成一个完整的部件。
在传统的封装领域,所有的封装都是面向芯片的,为芯片服务,起到保护芯片、尺度放大和电气连接的作用,是没有任何集成的概念的。随着MCM兴起,封装中才有了集成的概念,所以封装也发生了本质的变化,MCM将封装的概念由芯片转向模块、部件或者系统。
2D集成的SiP,其工艺路线和MCM非常相似,和MCM主要的区别在于2D集成的SiP规模比MCM大,并且能够形成独立的系统。
2D 集成示意图
EDA工具中实现的2D集成设计
2D+集成
2D+集成是指的传统的通过键合线连接的芯片堆叠集成。也许会有人问,芯片堆叠不就是3D吗,为什么要定义为2D+集成呢?
主要基于以下两点原因:1)3D集成目前在很大程度上特指通过3D TSV的集成,为了避免概念混淆,我们定义这种传统的芯片堆叠为2D+集成;2)虽然物理结构上是3D的,但其电气互连上均需要通过基板,即先通过键合线键合到基板,然后在基板上进行电气互连。这一点和2D集成相同,比2D集成改进的是结构上的堆叠,能够节省封装的空间,因此称之为2D+集成。
物理结构:所有芯片和无源器件均地位于XY平面上方,部分芯片不直接接触基板,基板上的布线和过孔均位于XY平面下方;电气互连:均需要通过基板(除了极少数通过键合线直接连接的键合点)。
下图所示几种集成均属于2D+集成。
2D+ 集成示意图
EDA工具中实现的2D+集成设计
2.5D集成
2.5D顾名思义是介于2D和3D之间,通常是指既有2D的特点,又有部分3D的特点的一种维度,现实中并不存在2.5D这种维度。
物理结构:所有芯片和无源器件均XY平面上方,至少有部分芯片和无源器件安装在中介层上(Interposer),在XY平面的上方有中介层的布线和过孔,在XY平面的下方有基板的布线和过孔。电气互连:中介层(Interposer)可提供位于中介层上的芯片的电气连接。
2.5D集成的关键在于中介层Interposer,一般会有几种情况,1)中介层是否采用硅转接板,2)中介层是否采用TSV,3)采用其他类型的材质的转接板;在硅转接板上,我们将穿越中介层的过孔称之为TSV,对于玻璃转接板,我们称之为TGV。
硅中介层有TSV的集成是最常见的一种2.5D集成技术,芯片通常通过MicroBump和中介层相连接,作为中介层的硅基板采用Bump和基板相连,硅基板表面通过RDL布线,TSV作为硅基板上下表面电气连接的通道,这种2.5D集成适合芯片规模比较大,引脚密度高的情况,芯片一般以FlipChip形式安装在硅基板上。
有TSV的2.5D集成示意图
无TSV的2.5D集成示意图
EDA工具中实现的2.5D集成设计
3D集成
3D集成和2.5D集成的主要区别在于:2.5D集成是在中介层Interposer上进行布线和打孔,而3D集成是直接在芯片上打孔(TSV)和布线(RDL),电气连接上下层芯片。
物理结构:所有芯片和无源器件均位于XY平面上方,芯片堆叠在一起,在XY平面的上方有穿过芯片的TSV,在XY平面的下方有基板的布线和过孔。电气互连:通过TSV和RDL将芯片直接电气连接。
此外,现在的3D Nand Flash是在芯片上直接制作多层存储单元,也是一种3D集成技术。
现在,EDA设计工具对3D集成有了很好的支持,下图所示为EDA工具中实现的3D集成设计。
EDA工具中实现的3D集成设计
4D集成
前面介绍了2D,2D+,2.5D,3D集成,4D集成又是如何定义的呢?
在前面介绍的几种集成中,所有的芯片(Chip),中介板(interposer)和基板(Substrate),在三维坐标系中,其Z轴均是竖直向上,即所有的基板和芯片都是平行安装的。在4D集成中,这种情况则发生了改变。
当不同基板所处的XY平面并不平行,即不同基板的Z轴方向有所偏移,我们则可定义此类集成方式为4D集成。物理结构:多块基板以非平行方式安装,每块基板上都安装有元器件,元器件安装方式多样化。电气互连:基板之间通过柔性电路或者焊接连接,基板上芯片电气连接多样化。
基于刚柔基板的4D集成示意图
气密性陶瓷4D集成示意图
4D集成定义主要是关于多块基板的方位和相互连接方式,因此在4D集成每一块基板中都可能会包含有2D,2D+,2.5D,3D的集成方式。
EDA工具中实现的4D集成设计
从严格物理意义上来说,以现有的人类认知出发,所有的物体都是三维的, 二向箔并不存在,四维空间更待考证。
为了便于区分多种不同的集成方式,我们将其分为2D、2D+、2.5D、3D,4D,5种集成维度。
集成的维度总结
这里,我们用一张图对集成的维度做个总结,如下图所示,包含5种集成维度的EDA设计图例和每种维度具体包含的集成类型。
后 记
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